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【国产x光镀层测厚仪技术指标】
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层（镀镍、镀金、镀银、镀锡等）
检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，最小孔径达0.1mm，最小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
稳定性：可达0.1%
Ф0.3mm四种准直器组合
操作环境湿度：≤90%
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 最高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境温度 15℃～30℃
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
【国产x光镀层测厚仪测试实例】
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。
Thick 8000x光镀层测厚仪检测谱图
某国外x光镀层测厚仪仪器检测谱图
11次测量结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：
|
次数 |
Thick8000x光镀层测厚仪 |
行业内其他仪器 |
|
1 |
0.042 |
0.0481 |
|
2 |
0.043 |
0.0459 |
|
3 |
0.043 |
0.0461 |
|
4 |
0.0412 |
0.0432 |
|
5 |
0.0429 |
0.0458 |
|
6 |
0.0436 |
0.0458 |
|
7 |
0.0427 |
0.0483 |
|
8 |
0.0425 |
0.045 |
|
9 |
0.0416 |
0.0455 |
|
10 |
0.0432 |
0.0485 |
|
11 |
0.0422 |
0.043 |
|
平均值 |
0.0425 |
0.0459 |
|
标准偏差 |
0.0007 |
0.0019 |
|
相对标准偏差 |
1.70% |
4.03% |
|
极差 |
0.0024 |
0.0055 |
X 光镀层测厚仪是一款快速无损的镀层测厚仪器，主要对镀金层、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜等金属镀层厚度测试，产品广泛应用于五金工具、电子线路印刷板、开关、 铝镀锌企业等，江苏天瑞仪器股份有限公司生产的THICK8000X光镀层测厚仪（国产厂家）是在THICK600、THICK800A的基础上做了进一 步的升级，三维移动平台，高清摄像系统，使整个测试过程更加清晰，测试结果更加准确，对微小点和微距离点的测试更加精准。
