Thick8000型XRF镀层测厚仪
Thick 8000xRF镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端膜厚测试仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.卓越的样品观测系统
3.先进的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。
技术指标
分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:最多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低至135eV
先进的微孔准直技术:最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 最高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
Thick800a型XRF镀层测厚仪
XRF镀层测厚仪用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器,电镀厚度的把握关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了标准厚度,尤其对贵金属银、金等,将会大大提高产品的成本,从而失去市场竞争力),天瑞仪器生产的Thick800a型XRF镀层测厚仪配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准,实现“傻瓜”式操作。
技术参数
重量:90 kg
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
最薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
性能优势
可靠性高:
由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:
:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
快速:
1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
无损:
测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:
实时谱图,可直观显示产品测试点
简易:
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
性价比高:
相比其他类类仪器,x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产ROHS测试仪,液相色谱质谱仪(LCMS),原子荧光光谱仪,x射线测厚仪,ROHS检测设备,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,ROHS检测仪,液相色谱仪,手持式矿石分析仪,原子吸收光谱仪,XRF镀层测厚仪,X射线荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪,气相色谱质谱联用仪(GCMS), ROHS仪器,手持式合金分析仪等分析仪器,涉及的仪器设备主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售X 荧光光谱分析仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是国内首家在创业板上市的分析仪器企业。公司产品主要应用于环境保护与安全(空气、土壤、水质污染检测等)、矿产与资源(地质、采矿)、商品检验甚至人体微量元素的检验等众多领域。